掃描隧道顯微鏡的基本原理
更新時(shí)間:2023-06-30 點(diǎn)擊次數(shù):4250
掃描隧道顯微鏡的基本原理是利用量子理論中的隧道效應(yīng)。將原子線度的極細(xì)探針和被研究物質(zhì)的表面作為兩個(gè)電極,當(dāng)樣品與針尖的距離非常接近時(shí)(通常小于1nm),在外加電場的作用下,電子會(huì)穿過兩個(gè)電極之間的勢壘流向另一電極。這種現(xiàn)象即是隧道效應(yīng)。隧道電流I是電子波函數(shù)重疊的量度,與針尖和樣品之間距離S和平均功函數(shù)Φ有關(guān).[4]。
隧道電流強(qiáng)度對(duì)針尖與樣品表面之間距非常敏感,如果距離S減小0.1nm,隧道電流I將增加一個(gè)數(shù)量級(jí),因此,利用電子反饋線路控制隧道電流的恒定,并用壓電陶瓷材料控制針尖在樣品表面的掃描,則探針在垂直于樣品方向上高低的變化就反映出了樣品表面的起伏。
將針尖在樣品表面掃描時(shí)運(yùn)動(dòng)的軌跡直接在熒光屏或記錄紙上顯示出來,就得到了樣品表面態(tài)密度的分布或原子排列的圖象[5]。這種掃描方式可用于觀察表面形貌起伏較大的樣品,且可通過加在z向驅(qū)動(dòng)器上的電壓值推算表面起伏高度的數(shù)值,這是一種常用的掃描模式。對(duì)于起伏不大的樣品表面,可以控制針尖高度守恒掃描,通過記錄隧道電流的變化亦可得到表面態(tài)度的分布。這種掃描方式的特點(diǎn)是掃描速度快,能夠減少噪音和熱漂移對(duì)信號(hào)的影響,但一般不能用于觀察表面起伏大于1nm的樣品[6]。
是利用SPM進(jìn)行納米加工的客觀依據(jù)。同時(shí)也說明,SPM不是簡單用來成像的顯微鏡,而是可以用于在原子、分子尺度進(jìn)行加工和操作的工具。
5教學(xué)課程安排
1)周:原理簡介與上機(jī)模擬。課后著手資料定向查詢并準(zhǔn)備實(shí)驗(yàn)報(bào)告。
2)第二周:演示與學(xué)生實(shí)驗(yàn)。先用鐵絲作探針練習(xí),熟練后再用鉑銥合金絲制作針。指定樣品(光柵)的測量。
3)第三周:改變電壓及掃描角度重新掃描,進(jìn)行圖像處理。課后資料定向查詢并完成實(shí)驗(yàn)報(bào)告。報(bào)告內(nèi)容:心得、體會(huì)及建議,STM在某個(gè)領(lǐng)域的應(yīng)用或STM儀器的某部件的原理。
4)第四周:宣講實(shí)驗(yàn)報(bào)告,每人15分鐘(包括5分鐘提問)。
6圖像處理
1)平滑處理:將像素與周邊像素做加權(quán)平均。
2)斜面校正:選擇斜面的一個(gè)頂點(diǎn),以該頂點(diǎn)為基點(diǎn),現(xiàn)行增加該圖像的所有像數(shù)值,可多次操作。
3)中值濾波:傅立葉變換。對(duì)圖像的周期性很敏感,在做原子圖像掃描時(shí)很有用.